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測試原理

偏振/相位測量

1、測試對象：

1、測試對象：偏光片、相位差膜、光學膜。

2、測試功能包括：

2.1：測試功能包括：可測試補償膜的波長分散性、面內補償值

Re、厚度方向補償值 Rth、光軸方向、預傾角 Beta；偏光片的

透過率（單體、平行、直交）、偏光度，色度（

L a,b)等。

2.2：貼合角/多層測試：除可測試補償膜+Pol 結構的補償偏光

片的貼合角度及補償膜的補償值之外，還可測試補償膜 1+Pol+

補償膜 2 結構的 2 個貼合角度。測試貼合角度時，對樣品放置要

求比較低。

2.3：偏光片：吸收軸角度測試，透過軸角度測試

3、各項參數

3.1 測試光斑：約 3mm

3.2 軸角度測試范圍：0~180°

3.3 光軸角度精度（相對于標準片）：±0.1°

（重復性精度±0.05°3sigema）

3.4 吸收軸測試精度：±0.01°

3.5 相位差測量重復性：0.2nm（

3sigema）（實測 0.1nm 以內）

3.6 正面位相差讀數分辨率為 0.01nm產品名稱

相位差/軸

角度測試

儀

產品型號

PLM-100P

第 2 頁

共 3 頁

3、各項參數

3.7 RTH 厚度位相差精度：±1nm（

3sigema）

3.8 貼合角度重復性精度≤0.05°

3.9 測試波長范圍：400nm to 800nm

3.10 測試波長最小間隔： 1nm

3.11 補償值測試范圍： 0nm to 20000nm

3.12 旋轉角度(方位角) ：0 to 360°或者-180°~+180°

3.13 輸出數據：可以 400nm~800nm 全波段輸出數據

4、光譜儀參數

4.1 波長精度：±0.2nm

4.2 光譜雜散光：＜0.05%（

400nm）

4.3 信噪比：2000:1

5、其他

5.1 樣品尺寸：約 6 寸

5.2 儀器構成：本體+PC

5.3 本體尺寸：500mm?500mm?1800mm（站立型）

5.4 保修時間：1 年

5.5 增值服務：新功能免費更新

5.6 貨期：2.5 個月

6、注意事項

6.1 由于此設備搭載多波段光譜儀，對于測試極少數特殊偏光片

的吸收軸角度時候，會與本公司另外專門的吸收軸角度測試儀存

在固定的公差，此種情況下，可免費寄樣到本公司測試出公差值。

6.2 針對不帶霧度及散射的樣品，在測試透過率，偏光度等參數

時，可直接測得絕對值；在測試帶霧度及散射的樣品時候，由于

結構上無法追加積分球，測得的透過率，偏光度等參數為相對值，

可根據其他儀器（例如分光光度計）去提取公差

品牌：	千宇光學
所在地：	江蘇蘇州市
起訂：	未填
供貨總量：	未填
有效期至：	長期有效

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