在半導體材料和器件的研究中，電性能測試是必不可少的環(huán)節(jié)。隨著半導體技術的提升，微電子工藝逐漸復雜，如何對微電子材料器件進行高效率測試成為業(yè)內(nèi)關注的重點。普賽斯儀表陸續(xù)推出多型號國產(chǎn)化數(shù)字源表SMU，為進一步打通測試融合壁壘，打造閉環(huán)解決方案，通過對半導體高端測試裝備上下游產(chǎn)業(yè)鏈的垂直整合，晶圓級微電子材料器件測試系統(tǒng)應運而生!
普賽斯數(shù)字源表SMU是整個測試系統(tǒng)的核心部分，用戶可以根據(jù)材料器件不同的電流、電壓，配置不同規(guī)格參數(shù)的源表和探針臺。SMU源表搭建晶圓級微電子材料器件測試系統(tǒng)認準普賽斯儀表，詳詢一八一四零六六三四七六；

更高效:靈活測試：

體積小巧，節(jié)省實驗臺空間
接線簡單，無需繁雜的同步觸發(fā)操作
適應多種測量模式，如四探針、三同軸等

更可靠:廣泛應用：
利用普賽斯這套國產(chǎn)化高精度數(shù)字源表+探針臺的測試系統(tǒng)，可以為您完成任何晶圓、芯片、微小電子器件的測試。

目前，普賽斯儀表已擁有涵蓋直流源表、脈沖源表、窄脈沖源、大電流脈沖源、高電流源、高電壓源、大功率激光器測試電源、插卡式源表、數(shù)據(jù)采集卡、脈沖恒壓源等完整的國產(chǎn)化數(shù)字源表解決方案，可為不同領域、不同需求的用戶提供全方位的測試支持，打造高效、靈活的微電子材料器件測試系統(tǒng)!