ZETA電位分析儀簡介：
Nicomp Z3000系列納米激光粒度儀是在原有的經典型號380ZLS基礎上升級配套而來，采用動態光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）原理檢測分析顆粒的粒度分布，粒徑檢測范圍 0.3nm – 10μm。其配套粒度分析軟件復合采用了高斯（ Gaussian）單峰算法和擁有*技術的 Nicomp 多峰算法，對于多組分、粒徑分布不均勻分散體系的分析具有*優勢。
技術優勢
1、高靈敏度PMT檢測器；
2、可搭配不同功率光源；
3、準確度高，接近樣品真實值；
4、可測試水相及有機相樣品的粒度及Zeta電位；
5、快速檢測，可以追溯歷史數據；
6、結果數據以多種形式和格式呈現；
7、符合USP,CP等個多藥典要求；
8、無需校準；
9、復合型算法：
（1）高斯（Gaussion）正態粒度分布與*的Nicomp多峰分布算法自由切換
（2）頻率（Frequency）Zeta電位分析法與*的相位（Phase）分析法自由切換
10、模塊化設計便于維護和升級；
（1）可自動稀釋模塊（選配）；
（2）自動進樣系統（選配）；
（3）搭配多角度檢測器（選配）；
Nicomp多峰分布概念
基線調整自動補償功能和高分辨率多峰算法是Nicomp 380系列儀器所特有的兩個主要特點，Nicomp創始人Dave Nicole很早就認識到傳統的動態光散射理論僅給出高斯模式的粒度分布，這和實踐生產生活中不相符，因為現實中很多樣本是多分散體系，非單分散體系，而且高斯分布靈敏性不足，分辨率不高，這些特點都制約了納米粒度儀在實際生產生活中的使用。其開創性的開創了Nicomp多峰分布理論，大大提高了動態光散射理論的分辨率和靈敏性。
ZETA電位分析儀價格
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