IC測(cè)試座
普通會(huì)員
產(chǎn)品價(jià)格￥50.00元/個(gè)
產(chǎn)品品牌ANDK
最小起訂≥1 個(gè)
供貨總量100 個(gè)
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更新日期2019-02-20 15:07
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企業(yè)二維碼： 企業(yè)名稱加二維碼
品牌： |
ANDK |
所在地： |
廣東 |
起訂： |
≥1 個(gè) |
供貨總量： |
100 個(gè) |
有效期至： |
長(zhǎng)期有效 |
生產(chǎn)廠家： |
鴻怡電子 |
5.0*3.2-4PIN晶振探針老化座
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
A、產(chǎn)品用途:老化座、測(cè)試座，對(duì)5032（5.0*3.2）的晶振進(jìn)行高低溫老化測(cè)試
B、適用封裝: 5032（5.0*3.2）-4PIN晶振
C、探針結(jié)構(gòu)，接觸更穩(wěn)定、體積小。
D、采用特殊的工程塑膠，強(qiáng)度高、壽命長(zhǎng)、絕緣性好
E、鍍金層加厚，觸點(diǎn)加厚電鍍，超低接觸阻抗、高可靠度，使用壽命（翻蓋結(jié)構(gòu)20000次）
F、我司可提供規(guī)格書(shū)（布板圖）資料，PDF檔\CAD檔
規(guī)格尺寸
A、型號(hào): 5032（5.0×3.2mm）-4PIN
B、腳位:4
C、芯片尺寸:5.0×3.2mm
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